Micro-LED技術揭秘之一:芯片制造的挑戰(zhàn)與突破
來源:數字音視工程網 編輯:ZZZ 2024-06-17 14:38:50 加入收藏 咨詢

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Micro-LED究竟是什么呢?本文將聚焦于Micro-LED的芯片制造,為您揭曉這一創(chuàng)新技術!
Micro-LED技術概述

Micro-LED,即微型發(fā)光二極管,是一種新型的顯示技術,它利用微小的LED作為顯示單元。與傳統(tǒng)的液晶顯示器和OLED顯示器不同,Micro-LED顯示器由數百萬個微小的LED組成,每個LED都可以獨立發(fā)光,具有高亮度、高對比度、高色彩飽和度和快速響應時間的優(yōu)勢。
芯片制造的挑戰(zhàn)與技術要點

Micro-LED芯片制造的挑戰(zhàn)主要集中在以下幾個方面:
1.芯片良率的挑戰(zhàn)
隨著Micro-LED芯片的微縮化,半導體制造工藝的復雜度顯著增加,從而使得單站制程的良品率(Yield)成為衡量生產效率和產品質量的關鍵指標。盡管目前良品率控制主要針對單個晶圓(Wafer)進行,且最高良品率可達99.9%,但這種單一指標并不足以全面反映芯片的實際品質和可靠性。
2.發(fā)光效率的挑戰(zhàn)
隨著尺寸的減小,Micro-LED在高電流密度下發(fā)光效率急劇降低。研究表明與芯片幾何結構中的微小“側壁”缺陷有關,對于Micro-LED來說,即使是微小的2μm側壁缺陷也可能導致破壞性的影響,因此如何減小側壁損傷或對側壁進行有效修復,對Micro-LED芯片的加工工藝提出了新的挑戰(zhàn)。
3.分光分色的挑戰(zhàn)
為了保證亮度和色度的一致性,LED產品需要進行分光分色。Micro-LED芯片微縮后,傳統(tǒng)的測量設備不再適用,對Micro-LED芯片的分光分色提出了新的挑戰(zhàn)。這要求開發(fā)新的測量技術和方法,以適應Micro-LED的微縮化特性。
Micro-LED芯片的微縮化為制造工藝帶來了一系列挑戰(zhàn),從芯片良率的工藝難點,到發(fā)光效率和分光分色的難題,每一個環(huán)節(jié)都需要技術創(chuàng)新和精細的工藝控制。盡管面臨諸多挑戰(zhàn),但隨著技術的不斷發(fā)展和突破,Micro-LED顯示技術有望在未來的顯示領域大放異彩。在接下來的系列文章中,我們將繼續(xù)深入探討Micro-LED的其他核心主題,敬請期待。
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